Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Dale E. Newbury, David C. Joy, Joseph R. Michael, Nicholas W. M. Ritchie, John Henry J. Scott, Joseph I. Goldstein
550
Pagini
2018
An
Paperback
Copertă
Editura
Springer-Verlag New York Inc.
Copertă
Paperback
Pagini
550
An publicare
2018
ISBN
9781493982691
Conectează-te pentru a lăsa o recenzie
🔥
🔥
🔥
🔥
🔥
Nicio recenzie încă
Fii primul care lasă o impresie.
