Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Joseph R. Michael, Nicholas W. M. Ritchie, John Henry J. Scott
550
Pagini
2017
An
Hardcover
Copertă
Editura
Springer-Verlag New York Inc.
Copertă
Hardcover
Pagini
550
An publicare
2017
ISBN
9781493966745
Conectează-te pentru a lăsa o recenzie
🔥
🔥
🔥
🔥
🔥
Nicio recenzie încă
Fii primul care lasă o impresie.