Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Joseph Goldstein, Patrick Echlin, Dale E. Newbury, David C. Joy
673
Pagini
2013
An
Paperback
Copertă
Editura
Springer-Verlag New York Inc.
Copertă
Paperback
Pagini
673
An publicare
2013
ISBN
9781461332756
Conectează-te pentru a lăsa o recenzie
🔥
🔥
🔥
🔥
🔥
Nicio recenzie încă
Fii primul care lasă o impresie.