Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Ești offline
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Dale E. Newbury, David C. Joy

689

Pagini

2002

An

Hardcover

Copertă

Adaugă în bibliotecă
Editura Springer Science+Business Media
Copertă Hardcover
Pagini 689
An publicare 2002
ISBN 9780306472923

Conectează-te pentru a lăsa o recenzie

🔥 🔥 🔥 🔥 🔥

Nicio recenzie încă

Fii primul care lasă o impresie.

Literaz

Literaz e mai bun în aplicație

Scanează cărți cu camera, compară prețuri
și organizează-ți raftul digital.

Deschide în aplicație