Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition, Joseph Goldstein (Author)
689
Pagini
2013
An
Paperback
Copertă
Editura
Springer-Verlag New York Inc.
Copertă
Paperback
Pagini
689
An publicare
2013
ISBN
9781461349693
Categorii
Fizică & Chimie
Conectează-te pentru a lăsa o recenzie
🔥
🔥
🔥
🔥
🔥
Nicio recenzie încă
Fii primul care lasă o impresie.