Low-Temperature Microscopy and Analysis

Name: Low-Temperature Microscopy and Analysis
Author: Patrick Echlin

540

Pagini

2013

Paperback

Copertă

Actualizat 1 săptămână în urmă

1,183.95

Lei

Editura Springer-Verlag New York Inc.

Copertă Paperback

Pagini 540

An publicare 2013

ISBN 9781489923042

Conectează-te pentru a lăsa o recenzie

🔥 🔥 🔥 🔥 🔥

Nicio recenzie încă

Fii primul care lasă o impresie.

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Cel mai bun preț

1,183.95 Lei