Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
Xiao Bai, Richard C. Wilson, Edwin R. Hancock, Tin Kam Ho, Battista Biggio, Antonio Robles-Kelly
524
Pagini
2018
An
Paperback
Copertă
Editura
Springer International Publishing AG
Copertă
Paperback
Pagini
524
An publicare
2018
ISBN
9783319977843
Conectează-te pentru a lăsa o recenzie
🔥
🔥
🔥
🔥
🔥
Nicio recenzie încă
Fii primul care lasă o impresie.
